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EPK MiniTest 720/730/740技術(shù)參數(shù)
篤摯儀器（上海）有限公司為德國(guó)Elektrophysik中國(guó)總代理，歡迎您前來(lái)咨詢~
目前SIDSP是技術(shù)，智能化數(shù)字化的涂層測(cè)厚儀探頭。該技術(shù)是有EPK品牌自主研發(fā)，此項(xiàng)技術(shù)的在一次創(chuàng)新取得了決定性優(yōu)勢(shì)，為涂層測(cè)厚領(lǐng)域建立的新標(biāo)準(zhǔn)。
那么，SIDSP有哪些決定性的優(yōu)勢(shì)呢？
1）探頭具有*的抗干擾性
2）測(cè)量型號(hào)穩(wěn)定性高
3）*的高度的探頭特征曲線
4）溫度對(duì)探頭不具影響力
5）探頭適應(yīng)能力強(qiáng)
6）N和FN型探頭基體導(dǎo)電性補(bǔ)償
7）將持續(xù)發(fā)現(xiàn)并改進(jìn)SIDSP技術(shù)，以滿足客服的需求
EPK MiniTest 720/730/740技術(shù)參數(shù)
主機(jī)：
| 型號(hào) 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
| 探頭類型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)/外置可換 |
| 數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 |
| 存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 | ≤10000個(gè) | ≤10000個(gè) | ≤100000個(gè) |
| 統(tǒng)計(jì)值 | 讀值個(gè)數(shù)，zui小值，zui大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置） | ||
| 校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 | ISO,SSOC,瑞典標(biāo)注，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) | ||
| 校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 | ||
| 極限值監(jiān)控 | 聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限 | ||
| 測(cè)量單位 | um, mm, cm, mils,inch,thou | ||
| 操作溫度 | -10℃-60℃ | ||
| 存放溫度 | -20℃-70℃ | ||
| 數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0（紅外接口） | ||
| 電源 | 2節(jié)AA電池 | ||
| 標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 | ||
| 體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
| 重量 | 約175g | 約210g | 約175g（內(nèi)置）230g（外置） |
探頭：
| 探頭 特性 | F1.5，N0.7，F(xiàn)N1.5 | F2 | F5，N2.5，F(xiàn)N5 | F15 | ||
| F | N | F | F | N | F | |
| 測(cè)量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
| 使用范圍 | 小工件，薄涂層，跟測(cè)量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
| 測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
| 信號(hào)處理 | 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理（SIDSP） | |||||
| 度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值） | ±（5μm+0.75%讀值） | |||
| 重復(fù)性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） | |||
| 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
| zui小曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
| zui小曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
| zui小曲率半徑（凹，內(nèi)置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
| zui小測(cè)量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
| zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
| 測(cè)量速度 | 連續(xù)模式每秒20個(gè)讀數(shù),單值模式下每分鐘70個(gè)讀數(shù) | |||||
EPK MiniTest 720/730/740技術(shù)參數(shù)
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